分光タイプ位相差測定装置

　

 　　　ファイバーカプラー　MU-501　　　 

 

 

 

 

PDMSLDcut.JPG - 8,337BYTES

　　　

　●　透過・反射両測定可能

 

　●　高再現性

 

　●　高速測定

 

　

　　　　

 

 

　

―　アプリケーション　―
◎各種位相板の位相差、楕円率、方位角測定
◎ＰＢＳ･プリズム等の内部反射･透過検査
◎ＣＤ･ＤＶＤ等のピックアップミラー等の位相差検査
◎各種光学部品の複屈折測定　　　等


―　特徴　―

●回転位相子法を採用している為、波長板の出し入れ無しでΔ値が

　全領域にわたって高精度に測定出来ます。

●入射アームとは独立させて、ディテクター部のみを動かせるので、

　光軸が平行移動するようなサンプルも測定可能です。

●各波長の位相差、楕円率、方位角が、確認しやすいデータビュー

　ワを標準装備しています。


―　仕様　―
測定方式 ：　回転位相子法 （ＲＱ法）
　　　※PCSA光学系（標準）の他、PSCA光学系にも対応可
光源 ：　150W　ハロゲンランプ（キセノンランプ選択可）
測定波長 ：　380　～　930nm
ビーム径 ：　約 500μm　（スポットレンズ使用時、直線状態にて）
入射角 ：　反射測定　40　～　90度、　透過測定　40　～　90度
ステージ ：　θ - 2θ　手動ゴニオステージ
測定精度 ：　Δ ± 0.05（°）
測定時間 ：　Min 25秒　（積算回数により測定時間は異なります）
標準寸法 ：　500 × 1030 × 430 （mm）（奥行き　X　幅　X　高さ）
　　　※測定器本体
標準重量 ：　約130 （kg）
　　　※測定器本体

 

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