ＬＤタイプ位相差測定装置

 　　　　　　 

 

 

 

 

●　波長自動切換え 　 　　　 　●　透過・反射両測定可能   　●　高再現性   　●　高速測定   　 　　　　   　 ―　アプリケーション　― ◎各種位相板の位相差測定 ◎ＰＢＳ･プリズム等の内部反射･透過の位相差検査 ◎ＣＤ･ＤＶＤ等のピックアップミラー等の位相差検査 ◎各種光学部品の複屈折測定　　　等 ―　仕様　― 測定方式 ：　回転位相子法 （ＲＱ法） 光源 ：　半導体レーザ（４０５〜１０６４nm複数搭載可能） ビーム径 ：　約 Φ2 〜 2.5 （mm） 入射角 ：　± 45 （°） ステージ ：　θ - Ｚ 測定精度 ：　Δ ± 0.05（°） 測定時間 ：　Ｍｉｎ 0.05 （sec） 寸法 ：　400 × 760 × 330 （mm） 重量 ：　110 （kg）   ＞ＬＤタイプ位相差測定装置   ＞分光タイプ位相差測定装置 　 ＞ＬＥＤ光源位相差測定装置 　   Produced by 無料でホームページを作成しよう